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Fecha de publicación
Título
Autor(es)
2020
Bases estadísticas de la metrología: incertidumbre en medidas directas (parte 1)
Autor desconocido
2020
Bases estadísticas de la metrología: incertidumbre en medidas directas (parte 2)
Autor desconocido
2020
Calibración de in instrumento para pesar de funcionamiento no automático, IPFNA (balanza)
Autor desconocido
2020
Calibración de un termómetro de líquido en vidrio (TLV)
Autor desconocido
2020
Confirmación metrológica
Autor desconocido
2020
Incertidumbre de Monte Carlo
Autor desconocido
2020
Incertidumbre en las determinaciones de pH
Autor desconocido
2020
Incertidumbre en las mediciones analíticas de Conductividad electrolítica
Autor desconocido
2020
Incertidumbre en medidas indirectas
Autor desconocido
2020
Introducción a la Metrología
Autor desconocido
2020
La nanometrología como base de la nanotecnología. Parte 2: desarrollo de instrumentación y campos de aplicación
Autor desconocido
2020
La nanometrología como base de la nanotecnología. Parte 5: un reto la normalización
Autor desconocido
2020
La nanometrología como base de la nanotecnología: andamio tisular como ejemplo de aplicación
Autor desconocido
2020
La nanotecnología como base de la nanotecnología. Parte 3: la instrumentación de medida
Autor desconocido
2020
Medición de la densidad con un picnómetro
Autor desconocido
2020
Metrología: ¿cómo elegir el marco de pesas adecuado al instrumento a calibrar?
Autor desconocido
2020
Práctica 3. Incertidumbre en mediciones que emplean la técnica de espectrofotometría UV-VIS
Autor desconocido
2020
Práctica de trazabilidad medidas físicas
Autor desconocido
2020
Prácticas de trazabilidad: medidas químicas
Autor desconocido
2020
Reglamento interno de higiene y seguridad. Departamento de física y química teórica
Autor desconocido