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Vista previaFecha de publicaciónTítuloAutor(es)
Portada_2400.png.jpg2020Calibración de un termómetro de líquido en vidrio (TLV)Autor desconocido
Portada_3026.png.jpg2020La nanometrología como base de la nanotecnología. Parte 5: un reto la normalizaciónAutor desconocido
Portada_2390.png.jpg2020Calibración de in instrumento para pesar de funcionamiento no automático, IPFNA (balanza)Autor desconocido
Portada_2082.png.jpg2020Bases estadísticas de la metrología: incertidumbre en medidas directas (parte 1)Autor desconocido
Portada_3171.png.jpg2020La nanotecnología como base de la nanotecnología. Parte 3: la instrumentación de medidaAutor desconocido
Portada_2813.png.jpg2020Verificación de un resistor eléctricoAutor desconocido
Portada_2531.png.jpg2020La nanometrología como base de la nanotecnología: andamio tisular como ejemplo de aplicaciónAutor desconocido
Portada_2044.png.jpg2020Bases estadísticas de la metrología: incertidumbre en medidas directas (parte 2)Autor desconocido
Portada_2196.png.jpg2020La nanometrología como base de la nanotecnología. Parte 2: desarrollo de instrumentación y campos de aplicaciónAutor desconocido
Portada_2937.png.jpg2020Confirmación metrológicaAutor desconocido

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