Buscar
Añadir filtros:
Agrega filtros para afinar la búsqueda.
Resultados por ítem:
Vista previa | Fecha de publicación | Título | Autor(es) |
---|---|---|---|
2020 | Práctica de trazabilidad medidas físicas | Autor desconocido | |
2020 | Introducción a la Metrología | Autor desconocido | |
2020 | Incertidumbre en las determinaciones de pH | Autor desconocido | |
2020 | Incertidumbre en medidas indirectas | Autor desconocido | |
2020 | Trazabilidad | Autor desconocido | |
2020 | Relación entre nanotecnología y nanometrología (parte 1) | Autor desconocido | |
2020 | Bases estadísticas de la metrología: incertidumbre en medidas directas (parte 1) | Autor desconocido | |
2020 | La nanotecnología como base de la nanotecnología. Parte 3: la instrumentación de medida | Autor desconocido | |
2020 | Calibración de un termómetro de líquido en vidrio (TLV) | Autor desconocido | |
2020 | La nanometrología como base de la nanotecnología. Parte 5: un reto la normalización | Autor desconocido |
Más frecuentes
Nivel
- 24 Licenciatura
Fecha de publicación
- 24 2020