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Vista previaFecha de publicaciónTítuloAutor(es)
Portada_2082.png.jpg2020Bases estadísticas de la metrología: incertidumbre en medidas directas (parte 1)Autor desconocido
Portada_3171.png.jpg2020La nanotecnología como base de la nanotecnología. Parte 3: la instrumentación de medidaAutor desconocido
Portada_2813.png.jpg2020Verificación de un resistor eléctricoAutor desconocido
Portada_2531.png.jpg2020La nanometrología como base de la nanotecnología: andamio tisular como ejemplo de aplicaciónAutor desconocido
Portada_2044.png.jpg2020Bases estadísticas de la metrología: incertidumbre en medidas directas (parte 2)Autor desconocido
Portada_2196.png.jpg2020La nanometrología como base de la nanotecnología. Parte 2: desarrollo de instrumentación y campos de aplicaciónAutor desconocido
Portada_2937.png.jpg2020Confirmación metrológicaAutor desconocido
Portada_1893.png.jpg2020Incertidumbre en las mediciones analíticas de Conductividad electrolíticaAutor desconocido
Portada_3073.png.jpg2020Uso de informes de calibraciónAutor desconocido
Portada_3065.png.jpg2020Metrología: ¿cómo elegir el marco de pesas adecuado al instrumento a calibrar?Autor desconocido

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