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Resultados por ítem:
| Vista previa | Fecha de publicación | Título | Autor(es) |
|---|---|---|---|
 | 2020 | Bases estadísticas de la metrología: incertidumbre en medidas directas (parte 1) | Autor desconocido |
 | 2020 | La nanotecnología como base de la nanotecnología. Parte 3: la instrumentación de medida | Autor desconocido |
 | 2020 | Verificación de un resistor eléctrico | Autor desconocido |
 | 2020 | La nanometrología como base de la nanotecnología: andamio tisular como ejemplo de aplicación | Autor desconocido |
 | 2020 | La nanometrología como base de la nanotecnología. Parte 2: desarrollo de instrumentación y campos de aplicación | Autor desconocido |
 | 2020 | Confirmación metrológica | Autor desconocido |
 | 2020 | Incertidumbre en las mediciones analíticas de Conductividad electrolítica | Autor desconocido |
 | 2020 | Bases estadísticas de la metrología: incertidumbre en medidas directas (parte 2) | Autor desconocido |
 | 2020 | Metrología: ¿cómo elegir el marco de pesas adecuado al instrumento a calibrar? | Autor desconocido |
 | 2020 | Uso de informes de calibración | Autor desconocido |